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ロンリ ト テスト
論理とテスト / 樹下行三, 浅田邦博, 唐津修 [著]
(岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達 [ほか] 編 ; 4 . ; 2VLSIの設計)
| データ種別 | 図書 |
|---|
所蔵情報を非表示
| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 資料ID | 状 態 | コメント | ISBN | 予約 | 利用注記 | 資料区分 | 指定図書 | 仮想書架 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1階中央図書 |
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549/I 95/4 | 85101128 |
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4000101846 |
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図書 |
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| 出版者 | 東京 : 岩波書店 |
|---|---|
| 出版年 | 1985.5 |
| 大きさ | x, 313p ; 22cm |
| 一般注記 | 参考書: p303-305 |
| 著者標目 | 樹下, 行三(1936-) <キノシタ, コウゾウ> 浅田, 邦博 <アサダ, クニヒロ> 唐津, 修(1947-) <カラツ, オサム> |
| 件 名 | NDLSH:集積回路 |
| 分 類 | NDC8:549 NDC8:549.08 NDC7:549.92 NDLC:ND351 NDLC:ND386 |
| 書誌ID | B000129335 |
| 本文言語 | 日本語 |
| ISBN | 4000101846 |
| NCID | BN00059257 |
目次／あらすじ