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RT Book, Whole SR Print DC OPAC T1 日本の技術が危ない : 検証・ハイテク産業の衰退 / ウィリアム・ファイナン, ジェフリー・フライ著; 生駒俊明, 栗原由紀子訳 OT Japan''s crisis in electronics : failure of the vision A1 Finan, William F., 1940- A1 Frey, Jeffrey, 1938- A1 生駒, 俊明(1941-) A1 栗原, 由紀子 YR 1994 FD 1994.4 SP 266p K1 科学技術研究 K1 技術 -- 日本 K1 電子工業 PB 日本経済新聞社 PP 東京 SN 4532142830 LA Japanese (日本語) CL NDC8:549.09 NO 書誌ID=B000053924; NCID=BN10838307; LK [OPAC]https://opac.lib.juen.ac.jp/opac/opac_link/bibid/B000053924 LK [Webcat Plus]http://webcatplus-equal.nii.ac.jp/libportal/DocDetail?hdn_if_lang=jpn&txt_docid=NCID:BN10838307; [Webcat Plus]http://webcatplus-equal.nii.ac.jp/libportal/EqualFromForm?txt_isbn=4532142830 OL 58